TI中文支持网Part Number:CC2642R
我的产品中使用了CC2642，生产了几万套产品运行良好。最近一个批次由于更换了晶振，出现了一些奇怪的问题：大约10%的产品在使用一段时间（几小时到几天不等）后，不再工作。既无蓝牙信号，也无法打印串口信息，IO管脚也没有任何变化，犹如死机一般。或者也可以认为进入了某种自我保护状态。我暂且称之为无响应状态。
这种无响应状态并非是普通的程序异常，因为无论使用硬件复位管脚，或是完全断电，都无法使其恢复正常工作。
但是只要重新下载一次固件（固件与生产时完全相同），就可以重新恢复正常工作。
进一步，在无响应状态下，通过Flash Programmer2读取CC2642内部Flash中的程序，发现程序是完整的，与下载的固件程序比较，数据一致。
除了0x48000-0x4A0000区域出现了一些奇怪的数据，在我原来下载的固件hex中并没有对这些地址写入任何数据。
更进一步，我发现关键的地方，是在0x4A000地址的一个字节。这个字节在正常工作的芯片中，读取的值是0xFE；而在无响应状态下，读取的值是0x70
当我使用Flash Programmer2将这个字节的值从0x70修改为0xFE，芯片立刻恢复了正常工作；而如果从0xFE修改为0x70，芯片立刻进入无响应状态。
为了排除硬件设计和固件设计的差异，我使用TI评估板CC26X2R1_LAUNCHXL，烧录了SDK中的例程程序simple_peripheral_oad_offchip
我同样在0x4A0000看到了这个0xFE字节，而将其修改成0x70时，同样将芯片置为了无响应状态。
我的问题是：
1. 在内部Flash的0x48000-0x4A000这个区域的数据是做什么用的，并没有在任何资料中找到说明，尤其是位于0x4A000的这个字节的作用是什么？
2. 在什么情况下，会导致位于0x4A000的字节发生变化，并导致芯片自动进入无响应状态？
Kevin Qiu1：
更换的是高频晶振还是低频晶振，0x4A000是内部flash的：
The user application pictured above is responsible for the following:
Implementing the protocol stack specific implementation of the OAD transportFinding a suitable location in external flash for the image and storing its image header in the table.
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Tao Wu：
更换的是高频48MHz晶振，晶振品牌型号没有改动，只是使用新生产批次的晶振，晶振指标也都正常。
检查了配置，确实0x48000-0x4BFFF是配置为内部SNV区域。如果程序并没有使用SNV的话，其内容为什么也会持续发生改变呢，什么情况下其内容会自动发生永久改动，并且改动进一步导致芯片进入无响应的状态呢？
芯片是否存在某类保护模式，例如检测到时钟、电源不稳定的话，触发这种保护机制，并永久禁止芯片运行程序？直到人为清除SNV中的记录，才能恢复正常？
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Kevin Qiu1：
只是更换了晶振后就无响应，有没有测过频偏,测一下供电电压是否稳定
NV会在低电压是损坏
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Tao Wu：
晶振在测试时，指标都是正常的
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Tao Wu：
原因找到了，确实是由于SNV区域导致，并且发现了SDK中的一个设计问题。
SNV区域可能由于重启等原因，出现了错误数据。具体表现为：两个page的SVN，分别处于(PGNACT和PGXSRC)状态
在SDK（版本simplelink_cc13x2_26x2_sdk_3_40_00_02）文件nvocmp.c中
一旦遇到这种case，会直接执行while(1)，将其修改后，不再出现芯片无响应问题
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Kevin Qiu1：
感谢分享，这个问题在新的SDK中已经解决了，最新的SDK中没有上述代码
你也可以选择升级到最新的SDK来解决此问题
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Tao Wu：
是的看了simplelink_cc13x2_26x2_sdk_5_20_00_52版本SDK，应该没有此问题。因此产品是两年前开发，所以还是用的老版本SDK。
谢谢您的支持和答复！
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Kevin Qiu1：
好的
