TI中文支持网hi，all
现在我碰到一个问题麻烦帮忙解决下，我设计了一款产品（基于CC2640R2F），同一批次6个产品中发现有2个产品TX,RX都为低电平，测量此时的晶振不起振，用我们的软件验证，发现一个大概率的出现该现象，一个是小概率，但都能正常烧入软件；但用了BLE5_HOST_TEST 软件验证，百来次都没出现该现象。
多次更换晶振，该现象没改善，测得供电正常以及DCDC_SW为1.68V。
Viki Shi：
已assign给硬件专家
Viki Shi：
你好，你目前提供的信息不够判断问题所在，可否提供更详细的内容帮助分析？内容请按照如下帖子所述：
e2echina.ti.com/…/189907
