tlv320aic3101芯片的AGC影响SINAD效果的问题

最近在用HP8903B,做tlv320aic3101芯片的性能测试。为了测量芯片的SINAD参数，测试信号（正弦单音信号）由MIC2L单端输入.经由PGA、ADC、DACL，最后由HPROUT单端输出。出现的情况具体如下：

（1）      芯片的总增益为一定值K时，不用AGC，输入由小逐渐增大，输出亦由小增大，在输出小于700 mV_{RMS的部分SINAD也增大,最大可达到50多dB，当输出大于700 mVRMS时，输出信号出现削峰，此时SINAD急剧下降。}

（2）      芯片的总增益为一定值K，通过对寄存器进行设置，将最终输出恒定设置为630 mV_{RMS当输出随输入的增加，第一次到达630 mVRMS时，SINAD达到最优，但是之后输入一直增加，输出由于AGC的作用，在630 mVRMS左右，未出现削峰，且由示波器上未看到明显的噪声。但是SINAD急剧下降，且在30dB左右，或更低。具体的寄存器配置如下：}

W30 0F  28         // L-PGA增益设定为20dB (reg 15)

W30 1A  9F         // Left AGC enable, Target gain = -8db, Attack time = 20ms, decay time = 500ms(reg 26)

W30 1B  78        // Left AGC Maximum gain applicable = 30db(reg 27)

W30 1C  38        // Left AGC Hysteresis =1db, noise threshold = -84db(reg 28)

W30 22  7F        // Left AGC Noise detect debounce = 512ms, signal debounce = 32ms(reg 34)

W30 3D  81      //DAC_L1 no routed to HPROUT Volume Control，音量=-0.5dB(reg 61)

其中,以下参数做过调整,但是结果还是一样

Target gain = -5.5 db~-12 db

Attack time = 8ms~20ms，Decay time = 100ms ~500ms

Noise threshold = -76db~ -90db

Maximum gain applicable =0db~32db

Hysteresis = 1db~3db

正常情况下,输入越大, SINAD参数会越好,所以不知道怎样才能在使用AGC效果的同时，保证SINAD参数的良好？具体应该调整哪些参数，如何调整？非常希望能够得到给位的帮助，谢谢！！

qin haiqiang：

回复 Roman Wang:

非常感谢二位的答复，由于春节假期，现在才回复你们，实在抱歉。二位所说的原因，我在测试中得以验证，确实如此。在次感谢！！