TI中文支持网
TI专业的中文技术问题搜集分享网站

关于TI数字隔离芯片ISO7741FDW做EFT(电脉冲群实验)时遇到的问题

各位大神好:

     

之前采购了TI的ISO7741FDW的这款芯片,我们现在应用于SiC驱动板,但是在做脉冲群EFT实验时遇到点问题,麻烦帮忙分析下,谢谢。

        下图是相应该部分的结构图。

       

        在做EFT时,测得各波形如下所示。

1.原边FAULT_A(3通道)与相应门极输出(2通道)

 

 

 

2.次边FAU_A(3通道)与相应门极输出(2通道)

 

 

 

3.原边3.3V电源(3通道)与相应门极输出(2通道)

  

 

 

4.次边5V电源(3通道,相对门极的地,芯片地相对门极地为-2V)与相应门极输出(2通道)

 

 

 

5.原边使能端(3通道)与相应门极输出(2通道)

 

 

 

从上面几幅图可以看出,传入到ISO7741F的信号FAU_A在EFT时并未拉低,但是从ISO7741F传出的FAULT_A则出现了一段时间的低电平,请问这部分问题是什么原因造成的?我这边暂时还没有找到原因,所以想请教一下。

 

下图是ISO7741F规格书中的一部分,可用于参考。

 

Mickey Zhang:

您的信号速率多少?您可以参考下Propagation delay time,工作电压不同,该时间不同,如果您的Propagation delay time过长,那么有可能出现您所说的问题。

user4578971:

回复 Mickey Zhang:

请问可以解释详细些吗?我没看明白。现在遇到的问题是ISO7741F的输入信号FAU_A在做EFT时并未拉低,但是ISO7741F的输出信号FAULT_A则出现了一段时间(差不多有1us左右)的低电平,正常情况下该信号应该一直为高电平,只有在给开通信号且检测到故障时才会被拉低。想不明白这个和Propagation delay time有何关系。

Kailyn Chen:

您好,我已经将您的这个问题提交到E2E英文论坛上了,但是由于波形是中文的,所以美国的工程师还是有一些疑问,您可以再次基础上继续跟下去:e2e.ti.com/…/2609085

赞(0)
未经允许不得转载:TI中文支持网 » 关于TI数字隔离芯片ISO7741FDW做EFT(电脉冲群实验)时遇到的问题
分享到: 更多 (0)