TPS61030 抗干扰能力差，容易坏

输入输出规格

输入 3.7V电池,输入电容 10uF+0.1uF  电感 6.8uH。

输出 220uF，5V/2A

输入电容测试 3.5A

发现很多芯片工作一会儿就坏，而且抗干扰的能力不好，测试时，手指靠近 FB 的电阻时，芯片工作会不稳定。

芯片测试的壳温 60度，没到过温点

PGND和Thermalpad 有三层地散热

还请专家帮忙指导，这颗料的抗静电能力及整改的方法，谢谢！

Johnny Guo：

抗干扰能力不好可能是布线存在一些问题，手指靠近FB电阻时人体的静电会影响电路的反馈信号造成不稳定出现。

建议把原理图和layout截图发上来看一下。

Neil Li：

你好，可以参考TPS61030的参考设计，保证原理图设计没有异常。

手指有静电，靠近FB是会导致芯片工作不稳定的。

tao smith：

回复 Neil Li:

Hi

    另外layout，建议参照datasheet.

    电源电源或者其他很多芯片，在通电状态都不建议手指靠近或者解除，容易干扰(例如寄生电容效应，静电）.

Kerwin Kang：

是只有一块板子这样还是每一块板子都这样？

lanjie Liu103016：

回复 Kerwin Kang:

是一批次的芯片十几块板子都是,其他批次的就不会烧.

SW 尖峰会到11V,我用demo测试,尖峰也有这么高,但器件资料最高才7V. 波形是在demo 上测试的,这个波形让我无语,究竟内置的MOS 耐压是多少的,Demo 都这么差,我跟客户更没办法解释

Jacky Wang(QD)：

回复 lanjie Liu103016:

上图的尖峰你是如何测量的？是把示波器探头的地线夹子去掉，直接使用探头接地环靠近SW测量的吗？

Neil Li：

回复 lanjie Liu103016:

你好，测试该尖峰时，需要采用地线环的方式，尽量避开干扰。

Silin Dong：

回复 Johnny Guo:

我也遇到，测试的时候一会就烧了