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28335 ADC采样的精确度问题

2014-09-30 分类：C2000™ 32位实时 MCU 阅读(290)

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Bruce_旋：

请问这个采样率怎么理解？采样率不是由触发频率确定吗、

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

ming zhao1：

回复 Bruce_旋:

采样率就是采样频率，即 触发AD转换器启动的频率

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Bruce_旋：

回复 ming zhao1:

AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run    这句有问题，这是连续运行模式，启动停止模式应该为0.  我也在做ADC但是采回来的波形有明显抖动，你有这种情况吗

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Kevin Dang：

因为没有其他部分代码，所以你确认没有给ADC上电ADC也一样工作了？你可以在线调试把寄存器读回来看下。是否是RESET操作导致的你所碰到的问题呢？在这个指令的前后分别看下你的寄存器。

这个序列除了应该把RST_SEQ放到power up之后，其他看不出问题。默认reset之后其实使用的就是内部的基准源。

AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */ //DELAY_US(10000);AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */DELAY_US(2000); 需要5ms延迟

AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Bruce_旋：

回复 Kevin Dang:

  我也在做ADC，但是采回来的波形有明显抖动。这是什么原因呢

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Kevin Dang：

回复 Bruce_旋:

这个问题比较复杂。

这个明显抖动，要看具体是抖动了多少，然后才能计算是否属于正常范围（比如ADC本身精度）

假定你这个抖动很大，那么一般来自于系统的干扰。

你可以先简单确定属于芯片部分（含芯片的供电和内部时钟或者其他控制器）造成的干扰，还是输入部分的噪声：

把输入直接接地，然后看抖动有多大，以此来判断噪声的大的来源。

定位后一般从以下改善：1. 电源 2. 使用外部滤波器 (这个要考虑自己的应用使用合适的高通和低通滤波，去掉杂波干扰并避免ADC产生混叠噪声）一般的RC滤波器就能起到作用 3. ADC的使用，你的采样频率是否合适以及参考电压的选择 4. 采用合适的均值算法.

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Bruce_旋：

回复 Kevin Dang:

你提到采用均值算法，我也看到手册说可以采用过采样提高采样精度，但是我的输入时正弦信号，不是直流高电平，这样的话，每个通道采样点其实不一样，那均值的方法是不是就不对了呢？

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Kevin Dang：

回复 Bruce_旋:

均值算法，其实我们一般是合并2种算法一起使用。首先，均值本身相当于FIR低通滤波器。在ADC的应用中，

1，我们可以对一个通道取样多次，然后求平均作为本次采样的样点，这是中值算法，这是一个平均，这个用均值是要通过提高采样率来实现的，根据那奎斯特采样定律，ADC的采样率需要达到均值点数*2*信号频率。2. 对每个通道获取的连续数据，做moving average，就是低通滤波。这个滤波器的频点和窗口大小有关。

请在网上学习关于moving average的知识。

【“要利用AD 模块，就要给AD 的内核，带隙电路上电，要准确的采集
信号也要对AD 的参考电路进行上电”】

请问这句话是什么意思呢？具体是怎么操作实施的呢！？

1.我的程序里不加如如下程序，能采样成功，加了下面的程序，反而不成功？！不知道是为什么？

2.【总复位Reset】加进去不能采样，不加采样正常。。

//初始化AD模块配置
void initadc(void)
{//AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; /* 复位片内ADC外设 */
AdcRegs.ADCTRL2.bit.RST_SEQ1 = 1;//复位采样序列
//AdcRegs.ADCTRL1.bit.SUSMOD = 0; /* 忽略仿真挂起 */
//AdcRegs.ADCREFSEL.bit.REF_SEL = 0; /* 采用内部基准电压处理 */
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCBGRFDN = 3; /* 能带隙电路和参考电路上电 */

//DELAY_US(10000);
//AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCPWDN = 1; /* ADC内核中模拟电路上电 */
//DELAY_US(2000);
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CPS=0;//ADCCLK=HSPCLK/1
AdcRegs.ADCTRL1.bit.ACQ_PS = ADC_SHCLK; // Sequential mode（顺序模式）: //【采样率】Sample rate= 1/[(2+ACQ_PS)*ADC clock in ns]=1/(3*40ns)=8.3MHz
//如果使用[同步采样]模式：采样率=1/[(3+ACQ_PS)*ADC clock in ns)] AdcRegs.ADCTRL3.bit.ADCCLKPS = ADC_CKPS; //预分频用，核心时钟分频，此处为25MHz
AdcRegs.ADCTRL1.bit.CONT_RUN = 1; //启动停止模式Setup continuous run AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_OVRD = 0; //不（覆盖由MAX_CONV1设置的最大通道数，在整个模块通道内循环转换 ） AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.all = 0x0; //初始化所有的ADC通道到A0
AdcRegs.ADCTRL3.bit.SMODE_SEL=0; //顺序采样模式
AdcRegs.ADCTRL1.bit.SEQ_CASC = 1; //级联模式Cascaded mode (0 双排序模式)
AdcRegs.ADCMAXCONV.bit.MAX_CONV1 = 0x0; //转换并存储到1个结果寄存器里
AdcRegs.ADCCHSELSEQ1.bit.CONV00 = 0; //采样ADCINA0通道，采样ADCINA0(引脚)
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_ENA_SEQ1 = 1; // 使能中断Enable SEQ1 interrupt AdcRegs.ADCST.bit.INT_SEQ1_CLR = 1;// 清除中断标志
AdcRegs.ADCTRL2.bit.INT_MOD_SEQ1 =0 ;// 在每一个SEQ1序列的结束设置INT_SEQ1中断标志位
}

Bruce_旋：

回复 Kevin Dang:

使用28335进行ADC，手册说可以采用过采样提高精度，比如ADIN0引脚采样三次，然后取平均。如果输入是稳定电平，这样当然没问题。但是如果输入时正弦，是不是就不对了呢，因为三个通道采样会有先后，虽然都是对ADIN0的信号采样，但是实际上每个通道的采样时间点是不一样的，这样取平均是不是就没有意义了。请问我这么理解对不对呢，是否可以这么做，我的目的是提高采样精度。

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未经允许不得转载：TI中文支持网 » 28335 ADC采样的精确度问题
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