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客户在使用LP2985-3.3和LP2985-4.0做OCXO时，在相噪测试中发现1hz恶化10dB,在10Khz恶化10dB；
系统介绍：
系统采用5V供电，通过LP2985-4.0产生4.0V（使用电流＜100mA）,之后通过LP2985-3.3产生3.3V（使用电流5mA）
LP2985-4.0：位于恒温槽外，工作环境温度为室温；
LP2985-3.3：位于恒温槽内，OCXO正常工作时恒温槽温度95°c；
测试环境：
1：供电环境：分别采用DC-SOURCE和锂电池供电做相噪测试；
测试结果：
1：供电引起差异测试：在采用DC-SOURCE供电和锂电池供电，OCXO相位噪声跟原测试数据（FA-SAMPLE和OK-SAMPLE）基本一致；
2：对调测试：在仅仅只对调FA-SAMPLE和OK-SAMPLE上的LP2985后，现象跟芯片走；
3：调节Cbypass和Cout电容：增大或减小Cbypass和Cout，问题现象基本一致；
4：由于没有高精度示波器，无法抓取uv级的输出纹波波形，采用6位半万用表测试发现，OK-SAMPLE在LP2985-3.3从环境温度升高过程中，其输出电压线性变化（0.02xmv级）；同样测试FA-SAMPLE发现，其输出电压出现来回波动（0.1xmv级）
BTW：
1：LP2985-客户已经使用十余年，以前从未出现类似问题，该批次在其它机型也会出现类似问题，包含以前量产机型；
Wu JW：
相噪测试是测LDO什么指标？如果是测PSRR，请按照以下的测试示意图进行。PSRR和噪声是不同的概念。
如果怀疑是LDO的问题，请单独测LDO，不要在客户系统上进行测试。
chen gavin：
回复 Wu JW:
谢谢。
我也是想单独测试一个LDO的各项参数，但是uv级的纹波，他们的示波器抓不到，相噪是测试的客户最终产品的相位噪，目前的看到的结果是，问题跟LDO芯片走，你有什么好的方法么去测试么，谢谢。
Wu JW：
回复 chen gavin:
LP2985本身的噪声性能和 PSRR都不是很好。不同产品，PCB LAYOUT还有系统噪声不同，不同芯片本身有一定的差异，也有可能导致类似问题的出现。
你可以用性能更好一点的，P2P的LP5907试试，看看问题是否能解决。
Johnsin Tao：
回复 Wu JW:
Hi选择性能更好的LDO,或者在增加以及LC看一下效果。
Johnsin Tao：
回复 Wu JW:
Hi选择性能更好的LDO,或者在增加以及LC看一下效果。
chen gavin：
回复 Wu JW:
谢谢回复，请问在PCB LAYOUT设计上有哪些好的意见和建议，谢谢。
chen gavin：
回复 Wu JW:
但客户使用这个料十余年，一直都很稳定，最近这一批才出现的问题，而且该机型客户也曾经量产上万套
