TI中文支持网我是一名IC测试厂的工程师，在测试DC-DC芯片时，有客户要求是闭环测试。即控制器芯片加外围电感，电容等构成完整的闭环进行测试。测试时，当负载较大时电路容易烧毁或者电路功能异常。分析是插座的寄生ESL和ESR引起的，有没有做过类似产品测试的大牛，行业内DC-DC芯片都是闭环测试的吗。个人感觉闭环测试的方法是有问题的。
Johnsin Tao：
Hi电源需要软开关启动，不要存在带电插拔（不清楚你提到是插座，是怎么个启动法）你提到的寄生电感之类，如果电源输入到板子之间有较长导线，并且导线的寄生电感比较大，那么在瞬态启动时因为较大的瞬态电流变化会在输入产生较大的spike，有可能导致芯片过压而烧坏芯片。一般做法是芯片板子上输入端增加一个较大电容例如100uF,消除这个震荡。
KW X：
用插座测IC？如何批量工业测试呢？建议上图。
gaon：
回复 Johnsin Tao:
测试像TPS54610和TPS62065，TPS50601-SP这类功率管内置的DC-DC控制器，芯片放在SOCKET里面，外围电感、电容放在SOCKET外面，不存在带电插拔。带负载时工作异常，PWM波形异常，去掉SOCKET，直接焊接上去一切都正常。说明板子本身是没有问题的，测试SOCKET也是专门定制的pogo pin，8A电流肯定没问题。我已经在离SOCKET最近的地方焊了220uF的电容。
daw y：
回复 gaon:
这样的接触方式，能保证各管脚都接触牢靠吗？特别是电流较大，这种方式我觉得还不如不测。
Vental Mao：
回复 gaon:
如果你芯片焊接上测试没有问题，带socket有问题，建议你问下socket厂家他们管脚上的寄生参数
另外你是测到多大电流时开始不正常，如果在大电流情况下更为明显，说明你的socket的寄生，焊接或者接触有问题
gaon：
回复 Vental Mao:
测试SOCKET采用POGO PIN结构，pin寄生电阻40毫欧，寄生电感0.5nH，单pin最大电流4A。SOCKET中电路空载工作正常，带载1A以上出现开关波形异常。怀疑是寄生参数影响了电路的闭环传递函数，使环路模型改变。现在BUCK电路基本就分单纯控制器，功率管内置DC-DC，电源模块这几类。控制器采用开环直接测试，不存在疑问；电源模块本身就是闭环，测试也不存在疑问。所以像这类功率管内置的DC-DC电路如果采用开环测试，测试不全面，如果搭外围电感、电容构成闭环测试又容易出问题。所以这类电路是不是就不能搭外围，构成闭环进行测试？
