TI中文支持网TPS63020电路在老化的时候出现L1对地短路
电路图如下：
输入电压：5V；输出3.3V@300mA 为节能采用对外脉冲式输出：输出电压波形如下
正常使用的时候，设备电路正常，一旦加入高温箱后，温度大于50℃以后，出现随机短路现象。单独使用电池供电没问题，一旦使用老化车供电，多台设备一起连接在一起，就会随机出现芯片L1对地短路现象，请帮我分析一下原因，谢谢。
nie tiger：
TPS63020电路在老化的时候出现L1对地短路
电路图如下：
输入电压：5V；输出3.3V@300mA 为节能采用对外脉冲式输出：输出电压波形如下
正常使用的时候，设备电路正常，一旦加入高温箱后，温度大于50℃以后，出现随机短路现象。单独使用电池供电没问题，一旦使用老化车供电，多台设备一起连接在一起，就会随机出现芯片L1对地短路现象，请帮我分析一下原因，谢谢。
Johnsin Tao：
回复 nie tiger:
Hi在老化车上用示波器监控一下VIN电压波动的情况？以及有电流勾表也确认一下负载的变化情况？前者是确认输入是否因为寄生参数(L)造成较大的输入spike烧掉芯片，后者是确认负载如果存在波动，电感在温度升高的情况下是否会饱和？
nie tiger：
回复 Johnsin Tao:
你好！在老化车内Vin的电压波动很小基本不变，电流仅有峰值脉冲，整个过程芯片没有温升，在芯片的输入端我是用10uF/35V和0.1uF/25V,减少寄生参数的影响，我现在担心的是：在高温条件，电感的Q值高会不会造成对此L1致命的损伤。还有就是哪些因素可以致使L1对地短路，也就是体能的N-MOSFET 损坏。目前100套产品中，25套TPS63020 L1对地短路，非常严重，最重要是我的负载非常轻300mA，因此我判断温度对芯片本身不会造成影响，主要是电感使用的线艺的电感 XFL4020 1.5UH@10KHZ下测试Q=8，高温无法测试到其电感值，所以现在不确定是否是由于电感造成的致命伤害。
daw y：
回复 nie tiger:
老化车带一台设备老化会不会出问题?还是怀疑多台一起工作相互尖峰干扰造成的，你在多态并联老化时，每台输入线上穿个磁环试试。看是不是损坏率下降。
nie tiger：
回复 daw y:
您好！关于您说的这个方案我们已经测试过，独立供电不会产生损坏，多态并联时候会出现，并联磁环的这个方案可以解决EMI，但是本质上芯片L1出现如此高的损坏，直接的原因还未查出，我目前最关心的就是什么因素会造成L1对地短路。谢谢
daw y：
回复 nie tiger:
并联磁环不仅仅是解决EMI，是防止相互产生的尖峰造成内部器件损坏，按照你的情况，应该是器件再原边产生的噪声造成另外电路损坏。
nie tiger：
回复 daw y:
你好！
你说的这个情况，我已经测量的输入端的和输出端的电压波形，并未出现您所说的尖峰电压，
