TI中文支持网看到我理解的机制是否正确？？？？？？？？？？
In general, when a fault is detected after theDelaytime, the CHG and DSG FETs will be disabled (Trip stage), and an internal fault counter will be incremented (Alert stage). Since both FETs are off, the current will drop to 0 mA. AfterRecoverytime, the CHG and DSG FETs will be turned on again (Recovery stage).
If the alert is caused by a current spike, the fault count will be decremented afterCounter Dec Delaytime. If this is a persistent faulty condition, the device will enter the Trip stage afterDelaytime, and repeat the Trip/Latch Alert/Recovery cycle. The internal fault counter is incremented every time the device goes through the Trip/Latch Alert/Recovery cycle. Once the internal fault counter hits theLatch Limit, the protection enters a Latch stage and the fault will only be cleared through the Latch Reset condition.
根据上述的资料，当触发短路保护阀值时，在（Bits 7–4: SCD1D–SCD1 delay time）的延迟时间后触发短路保护，关闭FET。在Recovery延迟时间后，尝试打开FET。如果是电流尖峰引起的，则在Counter Dec Delay延迟时间后，计数器递减。如果是持续的短路状态，将在（Bits 7–4: SCD1D–SCD1 delay time）的延迟时间后继续触发短路保护，内部计数器会递增，，当递增到Latch Limi限制后，彻底锁存。只有达到RESET的复位时间后，才会再次触发短路保护。
Johnsin Tao：
Hi是这样的。
rong chen1：
回复 Johnsin Tao:
那如果我不使能ASCDL的说村寄存器，触发短路保护之后，在Recovery 延迟时间之后，尝试打开，然后再次触发保护。如此循环，不会彻底锁死？？？
Jerry Zhu3：
回复 Johnsin Tao:
reset复位后再次触发短路保护，然后再锁死再reset，一直是这样吗？不会彻底死锁？
Marvellous Liu：
回复 Jerry Zhu3:
现有芯片好像都是这样处理的，过流发生，然后芯片停止一段时间，然后再自己恢复；就是说一直处于打嗝的状态，过流发生再直接锁死，这会导致系统启动需要外部干预。
Jerry Zhu3：
回复 Marvellous Liu:
过流解除后，应该就可以正常启动，如果过流一直在，就会一直打嗝。
rong chen1：
回复 Jerry Zhu3:
那我如何设置短路或者过流一次锁死呢？Latch Limi设置成0，也不行
Marvellous Liu：
回复 rong chen1:
这个涉及到芯片寄存器的操作，你需要联系器件技术支持，有些东西数据手册并没有写。
