TI中文支持网当前，我正在使用bq24170做锂电池充放电芯片，正常使用时都没问题。
就是容易损坏。目前发现的损坏操作是带点插拔接线口，接线口中包含了电池温度检测的TS口。如果拿掉TS口，带点插拔基本不会损坏芯片。
不知道有没有人也出现过这样的问题，或者帮我分析一下，还有没有其它问题的可能，以及怎么解决这个问题。
再次万分感谢。
Michael Yang：
你好，看起来是TS插口相关layout的寄生参数导致热插拔时损坏器件，最根本的建议是优化走线减少寄生参数，简单的改善方法可以考虑在TS口并联一个TVS管来保护。
注意考虑TVS管失效后的状态，需要一个限流电阻，TS pin的上端偏置电阻可以充当这个角色。
