TI中文支持网你好，FAE
我们在实际应用BQ34Z100-G1以及这个BQ77PL900DL这两个IC过程中有两个问题需要咨询：
1.BQ34Z100-G1，在老版本中BQ34Z100能很好的与EVSW上位机通讯，数据读取与修改都能正常进行，但是升级为BQ34Z100-G1的IC后，数据读取过程中就会出现掉数据现象，我们也升级这个bq34z100-G1 Device Firmware ,但是在还是无法解决问题。而且在IC版本选择页面并没有这个G1后缀出现，请告知明确的操作方式，谢谢。
2.基于BQ77PL900DL设计的10S项目，在基本测试过程中能很好的通过测试，但是在温度保护的时候，比如55度保护的时候，无法知道过温保护检测时间，在DATASHEET中也没有知道对这个的描述。请告知我如何知道这个检测时间。
另这个10S项目在做UL测试的时候出现一个有趣的现象，具体请看数据图，现在UL方面认定为没有过放保护。但是我们并不认同，但是又无法解释，请分析。
上图为温度曲线，X轴是时间，Y轴是20 40 60三个温度点
下图为电压曲线，X轴是时间，Y轴是2 3 4V三个电压点
扫描周期是5S一次，持续放电电流为22A
此10S电池组所写入的参数如下图：
Star Xu：
看电压曲线电池应该进入过放保护了，在倒数第二个下降突波的时候cell电压已经低于2V，不过温度接近60度，进的应该是过温保护；
温度下降到低于50度，恢复放电，电压低于2V，低电压延迟时间超过了10S，MOS关了。放电禁止以后电压会有一个回复，一直保持在3V
Star Xu：
想知道过温保护的延迟时间，可以把上图的扫描周期缩短成2S，然后看一下log数据，
比对一下到55度的时候延迟几秒没有输出电压就是过温保护的延迟时间
