TI中文支持网各位技术人员大家好：
问题描述：
如下图，芯片已配置为3串两并的应用，VC4原本通过导线直接短接VC3，后为了通过UL认证，添加了一个保险丝F1（由于PCB限制，只能加在VC3和VC4之间）。
认证测试时，将充电控制MOS管直接短路（UL要求），然后用30V、15.6A进行滥充测试（UL标准）。
F1（额定5A）按预期熔断，但是充电源（30V、15.6A）仍加在电池PACK上不移除，经过静置24小时后，18650锂电池电芯损坏（内部安全阀弹开），电芯量不到电压了，请问这可能是什么原因引起？
目前PCB改版将F1移动到芯片27脚之前，没有出现故障，芯片数据手册中管脚最大输入电压是30V，因此我猜想是否是因为30V加上静置24小时的原因导致芯片内部短路引起。这个问题虽然现在改版解决了，但是问题原因一直没有找到，请各位技术人员提供意见，各抒己见！
Cheng.W：
电芯保护 应该是由于30V电压加在3节电池上长时间充电，导致过压，安全阀打开的。
F1断开， VC4 pin 和内部的Vc3之间是有稳压管连接的,或者外部也一般会放稳压管，会有漏电流流过给电芯充电。
简单的说，如果按照图上的方式， 同样的实验后， 外部的电压改为12V， 那么就肯定不会有问题。
