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BQ40Z50_R1管理芯片在放电欠压 关断时问题咨询?

TI专家:

我们的电路设计如下,充放电回路是分开设计的。

芯片PACK管脚分别通过R30、R32电阻连接到充电CH+和放电P+端子上,现在发现如果R30(连接到CH+)电阻去掉,欠压CUV关断时,关断很快,波形如下:

其中(红色为MOS管GS端电压波形、黄色DS端电压波形、蓝色电流波形),关断时间很短,为200us,

但是如果R30和R32同为10K的话,测试波形如下:

关断时间变成了4.7ms,GS波形在2V的时候有一个很长的平台。

帮忙看看CUV保护和PACK管脚电压有什么样的关系? 谢谢!

Star Xu:

CVU侦测最低一串电压达到门槛值就会进入CUV,pack是电池组+mos的电压。

pack的电路设计您参考数据手册

9.2.2.3.3 PACK and FET Control

Jerry Zhu3:

回复 Star Xu:

请问为什么我PACK管脚两种不同的连接方式,会导致CUV关断时间上差异? 谢谢!

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