最后三位分别为单节电压数据低位、数据高位、检验位
高位翻转:(数据的高位翻转了,但是mcu读取4050的校验位后,CRC8校验是合格的。实测MCU和4050的smbus波形)
正确: 16 3D 17 14 0F B4
翻转: 16 3D 17 14 8F 3D
数据跳动:(数据发生跳动,但是mcu读取4050的校验位后,CRC8校验是合格的。实测MCU和4050的smbus波形)
正确: 16 3F 17 10 0F CC
跳动: 16 3F 17 90 0F 7A
CRC错误:(数据正确,最后的读取crc值错误。实测MCU和4050的smbus波形)
正确:16 3E 17 6A 0F FA
错误: 16 3E 17 6A 0F CF
Star Xu:
试一下用EV2400只读取一个数,如电池电压,然后用示波器把smbus的波形抓取下来。再抓一下自己软件编写的的smbus波形,同样读取这个电压,看看两者有什么区别
rong chen1:
回复 Star Xu:
bqstudio: