TI中文支持网您好!!
客戶遇到一個問題回覆,在測試IEC 61000 4-3 RF 射頻干擾時(電池與系統一起測試,系統為醫療用平板電腦),此時為充飽電狀態,電池組出現PF(CFETF啟動)狀態,將電池鎖住,無法充放電。
我們將客戶寄回的電池照客戶條件模擬後發現,在IEC61000 4-3 測試時,頻率在高頻 1G Hz以上，Gauge IC 內部偵測出107mA的電流,進而造成PF啟動.
Gauge IC 設定如下:
1. CHGFET設定為1
2. CFETF 設定條件: 100mA / 5S
客戶想要知道,射頻干擾為何會造成Gauge IC內部偵測出107mA的電流,或者是TI 有沒有遇到類似這樣的情況.
再麻煩協助.謝謝
Chris
Star Xu：
干扰不太可能直接在IC中引起问题，它通常是通过某种方式通过引脚从PCB进入的。您可以在输入到设备的信号上放置一个具有高自谐振频率的电容，将有助于衰减高频感应元件进入零件的过程。
您可以参考下面链接的例子进行分析。
e2e.ti.com/…/329364
Chris Chu：
回复 Star Xu:
Dear Star
你好!!
感謝您的答覆,我們會試試看您提供的方式衰減高頻感應元件進入零件的過程。
所以,當透過某種方式(ex.高頻干擾)進入PCB,進而影響到Gauge IC,使得Gauge IC內部抓到Current Shunt之間有電壓差(SRN & SRP 引腳),產生所謂的誤電流對吧,我這樣的理解正確嗎?Chris
Steven CHEN：
回复 Chris Chu:
頂
