TI中文支持网电路是按数据表中的推荐电路搭接的，晶振采用推荐的4.***M的，PGA为2倍。原理是用比较法测电阻，恒流源流过基准电阻和被测电阻，AD基准电压采来自基准电阻分压，AD测量输入来自被测电阻分压，使用低速测量时（10次/秒），原始输出字波动已经可以做到10个字以内，但是高速（80次/秒）时测值波动较大，采用4个周期的移动平均滤波后，稳定性增强，一次实测数据出现20分钟的长周期波动，波动幅度在800个字，形状类似锯齿波，另一次试验出现的波动周期更长，波动幅度相差不多。在用电池供电，对整个仪器用金属盒屏蔽后，这种长周期的波动现象消失，请问是什么原因呢？初步分析是因为工频电的干扰引起，按数据表的理解，在低速，标准晶振的状态下，AD可以抑制工频干扰。目前的需求是要把采样速度比低速时提高2到4倍倍左右，应该怎样选择晶振能使得AD在高速采样时也可以具有抑制工频的能力，或者选择低速采样，而使用更高频率的晶振？
Robin Feng：
考虑是否有外部干扰，该器件需要外部参考，你的参考如何？电源如何？
yopen lee：
经过几天的测试，确定是输入信号的问题，与测量电路本身无关，现已经排除了干扰，效果很好，谢谢！
