TI中文支持网各位大侠，
请教下关于ADS8365的问题，在测试时发现将输入端短接，测得的频谱上有类似陷波的波形（如图1所示），且不与采样频率有关；
1，曾经怀疑过电源耦合的干扰，采用外接供电的方式也是会有发生；
2，测试时偶然间将输入正负短并接入100pF的电容时可以起到抑制作用，但同时也影响了低频段的响应（如图2所示），除此之外，一旦此电容容值大于1nF即变回图1所示的波形，且频率点不随容值变化而变化。
3，整体效果感觉跟Σ-Δ ADC的Sinc³ 滤波器的低通函数和相似（如图3）
请问下各位，是否有出现过类似的情况，又该如何解决？
图1，异常频谱
图2，稍有改善
图3，相似频谱
user151383853：
确实有点相似, 但从原理看应该没有关系, 难道是巧合.
或者你的输入电路上也有类似滤波特性
dujun cai：
回复 user151383853:
以上的测试条件都是将输入级回路断开的前提下做的，也就是现在只是做了ADC自检的功能，除了后级接入了FPGA做采集，其他的都是最简的形式了
Mickey Zhang：
您是指将输入引脚如CH A1+与CH A1-短接至GND，然后测输出的波形？您这么做的目的是什么？
dujun cai：
回复 Mickey Zhang:
这么做是因为我需要测量我系统噪声水平，然后测试时发现频谱中有异常的陷波，但我实际并未有相关频率的电路存在，所以就直接将AI+与AI-短接（一种是浮地，另一种直接接地）都会出现该现象，所以很疑惑，我该如何解决？
