TI中文支持网Hi,TI的工程师你们好，我有如下的问题:
1、我使用TEST模式测试静态波动，发现最大最小数据相差8000的数据，使用的CF时内部的，大小12.5pF(Range = 1),这个是什么原因呢。而且这个最大最小差值在慢慢的增加，不过增加的比较少，而且很慢。
波形时序如下: CLK与CONV使用STM32的内部72M时钟分频所得，另外使用主定时器同时启动这两个定时器分别输出CLK和CONV以此达到相位同步功能，CLK为10MHz,CONV为100Hz,之后在检测到DVALID上升沿后，主动拉低DXMIT引脚，然后延时5us使用SPI读取20Bit数据，读取完成后主动拉高DXMIT引脚结束数据通信。
user151383853：
12.5pF 是测量到的, 包含寄生电容的测量值吧. 最大最小差值在慢慢的增加，感觉象是漂移的情况, 看看
user4153579：
回复 user151383853:
你好，这个漂移一般是什么引起的呢，另外我这个值是在忽大忽小跳动，只是有时候会跳动的大一些，我程序中保留最大和最小值，这个和最大最小差值在变大，但是后面就基本不怎么变了。另外在DXMIT为高的情况下测量DVALID波形是转换时为低电平，转换完成后为高电平，很奇怪，我看手册上是转换时为高电平，转换完成后为低电平才对啊。
