DDC112U TEST模式测量数据问题

我有如下问题:  DDC112的CLK为12MHz，采用Continuous Mode 。始终让其工作在TEST模式。根据数据手册应该有13pc的电荷。CONV信号时钟为占空比为50%的方波信号。经过测试当CONV信号的脉冲宽度大于100ms时一切正常(100ms,200ms,500ms,1s).电荷量大概为13pc。当CONV信号脉宽小于100ms时。(500us,1ms,50ms)电荷量为29pc左右。请问有可能时什么原因导致的这种情况。(CONV信号是在CLK信号的上升沿切换的)

500us时的数据:

Q1 = 28.901300 pC,Q2 = 28.888123 pC.time = 0.0005
Q1 = 28.899982 pC,Q2 = 28.888123 pC.time = 0.0005
Q1 = 29.360500 pC,Q2 = 29.327559 pC.time = 0.0005
Q1 = 29.363135 pC,Q2 = 29.330194 pC.time = 0.0005

500ms时的数据:

Q1 = 13.996721 pC,Q2 = 13.980579 pC.time = 0.5000
Q1 = 13.766791 pC,Q2 = 13.760203 pC.time = 0.5000
Q1 = 13.995074 pC,Q2 = 13.979921 pC.time = 0.5000
Q1 = 13.767450 pC,Q2 = 13.762179 pC.time = 0.5000

user151383853：

可能时间太短会导致还没有电位平衡吧

mszhang seasuncc：

回复 user151383853:

这个问题找到了,是因为主控SPI经过SN74LVC2T45DCT电平转换芯片后，时序错乱(原因还在查找中)。用IO口模拟读取数据时完全没问题的