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ADS8556采集数据是死数问题

我司在众多项目上采用了该芯片。最近发现几年生产的一个产品在客户处出现AD采集数据是死数的情况。该电路是在众多项目上验证过的,无问题。ADS8556芯片采用并行方式与CPU的数据总线通信,CPU的数据总线上还挂载有其他设备,出现故障时其他设备都正常,可排除数据总线异常。

故障现象如下:

       客户设备上电后工作一段时间,ADS8556两个通道采集数据为死数(其他通道未使用),出现死数时 通道一 十六进制数据为0x95,通道二 十六进制数据0X44.出现故障后,系统软复位故障依旧。当设备重新上电后故障消失。故障出现概率较低。

      由于故障出现概率较低,用相同板卡放在独立环境进行故障复现。做了如下复现操作

     A、将ADS8556的模拟5V、+-15V工作电压降低。5V降低到3.3V时整个板卡复位,故障都不复现。

    B、将外部基准电压源电压降低,一直降低到0V,未复现故障

   C、将外部输入端接地,故障不复现

   D、将模拟输入通道灌入15V电压,故障不复现

   以前在电力行业工作时也使用过ADS8556,当时在做抗静电测试时,对模拟通道用静电枪打静电会将ADS8556芯片打死,采集数据就是死数。和现在这个现象比较像,TI技术支持当时告知是ADS8556的复位做得不是很好导致。现在由于客户处的环境接地都良好,而且也不容易产生静电。故可排除静电问题

   现在找不到排查方向,请TI工程师给与指导。

user151383853:

固定通道出现问题, 我觉得这可能是排除问题的关键点之一
对各点采样的时序截下来, 分析分析有啥不同,有没有突破的可能性

xyz549040622:

我的建议是,PCB上多下功夫,做好PCB,专门做抗干扰的优化。

user4920588:

回复 user151383853:

只使用了两个通道,出现故障时那两个通道就是死数,量产很多了。做过高低温加严,如果是时序风险应该很容易暴露出来

user4920588:

回复 xyz549040622:

上面说过之前遇到过ads8556抗静电能力不行,换adi的ad7656就OK。不认为是pcb设计风险

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