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TAS5630 2.1CH 声道 分离度问题 求解

PVDD:44V

GVDD:12V

散热器接地良好,加载功率输出正常

A+B  4欧负载

C/D  2欧负载

问题现象:当A+B输出时  ,C,D分离度很低。

              (C,D分离度随A+B输出幅度而变化,但两者不同步。串扰到C,D的信号频率随A+B输出幅度变化)

                   A+B不管在空载还是加载,C,D分离度都存在一样的问题。

                   断开R29,R30,加大C20,C23至0.1uF,问题同样存在。

                当将电路接成2CH,2*BTL时,C+D干扰消失,经测试,C,D干扰同样存在,只是CMRR提高,BTL时互相抵消了。

               当2.1CH时,A+B会干扰C,D。C与D互相干扰。

                当散热器不接地时,干扰更严重。

                

user1992148:

当A+B输出电感去除后,干扰依然存在

当A+B PVDD,GVDD采用外部供电后,干扰依然存在

Kailyn Chen:

回复 user1992148:

有两点需要验证:

1. 请在PVDD与PGND间加一8Kuf的电容验证。

2.目前您的输入信号的频率为多大?请改变频率验证是否有所改善?

user1992148:

回复 Kailyn Chen:

1.加大PVDD与PGND间电容对该问题没有改善

2.输入信号为50Hz-2KHz,在这个频段间都存在干扰

谢谢你的关注,我在E2E上有看到一个关于TAS5630与TAS5630B的改善点的贴子,上面有提到TAS5630B改善了声道分离度的问题。并且TI已经在官网上发出不建议使用TAS5630的公告。是不是IC本来就有这个缺陷。

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