TI中文支持网在与总体测试中出现了模拟相邻通道的串扰现象，望各位大侠能指点迷津！！
总体测试输入与测试（测量）系统采用了ISO124进行隔离，各通道的绝缘电阻在100M欧姆以上；而测量系统自带的传感器部分没有隔离，它们和测量系统为同一地。在隔离运放ISO124后端都采用了TL064INS做个跟随器，最后接入到模拟门（ADG506），传感器输出直接接到模拟门输入端；运放、模拟门都是+-15V供电。测试结果发现，在隔离信号与测量系统的传感器输入信号的相邻两个通道间出现串扰，比如，第七通道为总体的GPS5伏供电，第八通电为测量系统的温度传感器。
开始菜鸟以为是温度传感器的输出驱动不够造成的，就在温度传感器端也增加了同样的电压跟随器，测试结果发现：增加与不增加前后都受到总体上电的影响，只要GPS5伏加电，温度传感器的第八模拟门输出即时被严重拉低三百毫伏左右；断开第七通道的输入，第八通道恢复正常！
最后，俺实属无奈，只能在第七通道的输入端（GPS5伏供电）的ISO124输入之前增加一个200K欧姆的电阻才解决了这个问题。但是这显然不是总体（客户）希望看到的，请问各位大侠有什么好的建议或经验可以彻底帮助俺解决这个难题？菜鸟先行谢谢了。
Joel Li：
不是很理解你的应用背景，最好有电路图，原理框图也可以。大概凭我的理解说说啊：
信号输入ISO124前加入200kΩ电阻后，通道8被拉低的问题解决了，是串联进去的吗？这样的话，板子上是不是有漏电流呢？除了通道8以外，其他通道受到影响了吗？通道8的地和总体的地之间有压差吗？
或许可以把总体板断开，用电源和信号发生器模拟为总体，测一测ADG506输入端各个通道的情况，如果正常的话，或许是总体过来的信号或者电源有问题。
HT L：
回复 Joel Li:
200K欧姆电阻是串联进去的。不会存在漏电流的可能，因为其它通道的接入具有高度的一致或相似性。通道8的地就是测试系统的地，第7通道测试隔离输入的，具体原理概略图如附件中所示。通道8的地和总体的地之间不会有压差，如果它们有压差出现，则可能造成系统几十路测量都有问题或者至少与第7通道相同隔离地之间，实际中并没有出现如此糟糕情况，仅仅在紧挨的通道8上出现了异常，而且异常的是不是被隔离第7通道跳变，而是第8通道出现跳变！如果在R101前端增加一个200K欧姆的电阻则没有发生跳变。希望TI的大侠们给一个详细的解释，多多指教。
